【出 处】：《 计算机仿真 》 CSCD 2013年第30卷第6期 351-355页,共5页

【作 者】： 彭飞 ; 吴智政 ; 王璐

【摘 要】 研究伺服控制器性能优化问题，新型存储系统中数据信息点的密度越来越高，盘片的转速越来越快，现有的PID的循迹伺服控制器已无法满足超高密度存储系统纳米级的循迹精度。由于制造工艺导致的盘片偏心会对循迹误差信号产生周期性的扰动，随着盘片转速的提高，周期扰动会降低激光光头循迹的性能。为了有效地抑制该干扰，达到纳米级的循迹精度，提出了利用Youla全局收敛的自适应循迹伺服控制方法，通过对Youla参数权重函数的优化，提高了控制系统的伺服性能。通过在Matlab／Simulink上进行仿真，验证了自适应控制器具有较强的鲁棒性和抗干扰性，能显著有效地抑制外部各类干扰信号。