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本刊是由中国航天科工集团公司主管, 由航天科工集团十七所主办。它是仿真技术领域的综合性科技期刊。98年起已列入国家科技部中国科...【详细查看】
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基于亚像素精度的任意宽度直线反走样算法
【出 处】:《
计算机仿真
》
CSCD
2013年第30卷第9期 244-247页,共5页
【作 者】:
桂丽娟
;
申闫春
【摘 要】
针对地图可视化中地图及地图符号边界出现走样现象,提出了亚像素精度的任意宽度直线反走样算法,结合数值微分(DDA)算法和亚像素精度直线反走样算法,计算有宽度直线的边界像素点的整数坐标位置以及像素点的覆盖面积,从而计算边界像素点的绘制亮度,再结合直线的本来亮度值来确定边界像素点的最终亮度值,从而使边界像素变化平滑,减少边界的锯齿.仿真结果表明,改进算法的像素亮度等级能够达到较高等级,生成的地图符号边界比较细腻,反走样效果好,在地图可视化中得到较好的应用.
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